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Pression de métallisation

La pression de métallisation est la pression requise pour qu'un élément chimique non métallique devienne un métal. Chaque matériau est censé se transformer en métal si la pression est suffisamment élevée et la température suffisamment basse.

La valeur pour l'arsenic est pour l'arsenic noir métastable ; l'arsenic gris, l'état standard, est déjà un conducteur métallique dans des conditions standard.

Z Élément p, Mbar Réf.
1 hydrogène 3,9 [1]
2 hélium 329 [2]
5 bore 1,6 [3]
6 carbone 11 [4]
7 azote >> 5 [5]
8 oxygène 0,96 [6]
9 fluor . .
10 nĂ©on 2 084 [7]
14 silicium 0,12 [8]
15 phosphore 0,048 [9]
16 soufre 0,83 [10]
17 chlore 2,0 [11]
18 argon 5,1 [12]
32 germanium 0,11 [13]
33 arsenic 0,022 [14]
34 sélénium 0,23 [15]
35 brome 0,25 [16]
36 krypton 3,1 [12] - [17]
52 tellure 0,04 [18]
53 iode 0,16 [19]
54 xénon 1,3 [20]
86 radon . .

Les pressions de métallisation du fluor et du radon n'ont jamais été mesurées. Pour le fluor, calculs en 2020 prédisent la métallisation à 25000 Mbar[21].

Voir aussi

Références
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  2. Monserrat, Drummond, Pickard et Needs, « Electron-Phonon Coupling and the Metallization of Solid Helium at Terapascal Pressures », Physical Review Letters, vol. 112, no 5,‎ , p. 055504 (PMID 24580611, DOI 10.1103/PhysRevLett.112.055504, Bibcode 2014PhRvL.112e5504M, arXiv 1311.1005)
  3. Zhao et Lu, « Pressure-induced metallization in solid boron », Physical Review B, vol. 66, no 9,‎ , p. 092101 (DOI 10.1103/PhysRevB.66.092101, Bibcode 2002PhRvB..66i2101Z, arXiv cond-mat/0109550)
  4. Correa, Bonev et Galli, « Carbon under extreme conditions: phase boundaries and electronic properties from first-principles theory », Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America, vol. 103, no 5,‎ , p. 1204–1208 (ISSN 0027-8424, PMID 16432191, PMCID 1345714, DOI 10.1073/pnas.0510489103, Bibcode 2006PNAS..103.1204C, lire en ligne)
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  20. Eremets, Gregoryanz, Struzhkin et Mao, « Electrical Conductivity of Xenon at Megabar Pressures », Physical Review Letters, vol. 85, no 13,‎ , p. 2797–2800 (PMID 10991236, DOI 10.1103/PhysRevLett.85.2797, Bibcode 2000PhRvL..85.2797E)
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