AccueilđŸ‡«đŸ‡·Chercher

Pulvérisation cathodique

La pulvĂ©risation cathodique (ou sputtering) est un phĂ©nomĂšne dans lequel des particules sont arrachĂ©es Ă  une cathode dans une atmosphĂšre rarĂ©fiĂ©e. Elle est une des causes du vieillissement des anciens tubes Ă©lectroniques, mais est Ă©galement mise Ă  profit comme mĂ©thode de dĂ©pĂŽt de couche mince. Il s'agit dans ce cas d'une technique qui autorise la synthĂšse de plusieurs matĂ©riaux Ă  partir de la condensation d’une vapeur mĂ©tallique issue d’une source solide (cible) sur un substrat.

Pulvérisation cathodique magnétron en cours de dépÎt de couche mince

Principe

L’application d’une diffĂ©rence de potentiel entre la cible et les parois du rĂ©acteur au sein d’une atmosphĂšre rarĂ©fiĂ©e permet la crĂ©ation d’un plasma froid, composĂ© d’électrons, d’ions, de photons et de neutrons dans un Ă©tat fondamental ou excitĂ©. Sous l’effet du champ Ă©lectrique, les espĂšces positives du plasma se trouvent attirĂ©es par la cathode (cible) et entrent en collision avec cette derniĂšre. Elles communiquent alors leur quantitĂ© de mouvement, provoquant ainsi la pulvĂ©risation des atomes sous forme de particules neutres qui se condensent sur le substrat. La formation du film s’effectue selon plusieurs mĂ©canismes qui dĂ©pendent des forces d'interactions entre le substrat et le film.

La dĂ©charge est autoentretenue par les Ă©lectrons secondaires Ă©mis de la cible. En effet, ceux-ci, lors de collisions inĂ©lastiques, transfĂšrent une partie de leur Ă©nergie cinĂ©tique en Ă©nergie potentielle aux atomes du gaz prĂ©sent dans l'enceinte qui peuvent s’ioniser.

SynthÚse de films céramiques

Afin de rĂ©aliser des films cĂ©ramiques (oxydes, nitrures, etc.), une espĂšce rĂ©active, l’oxygĂšne pour les oxydes, l’azote pour les nitrures, est ajoutĂ©e au gaz porteur, gĂ©nĂ©ralement de l’argon. La stƓchiomĂ©trie des couches est en relation directe avec la pression partielle de gaz rĂ©actif introduit. La synthĂšse d’un revĂȘtement stƓchiomĂ©trique nĂ©cessite, souvent, la formation du composĂ© Ă  la surface de la cible. Le gaz rĂ©actif rĂ©agit avec les diffĂ©rentes surfaces prĂ©sentes dans l’enceinte (cible, substrat, parois) et participe Ă  la pulvĂ©risation en modifiant les caractĂ©ristiques Ă©lectriques de la dĂ©charge. Ceci peut se traduire par des phĂ©nomĂšnes d’instabilitĂ© Ă©lectrique et du rĂ©gime de pulvĂ©risation.

Instabilité électrique

Le gaz rĂ©actif recouvre partiellement la surface de la cible pour former une couche isolante. Les ions argons qui viennent la frapper ne peuvent plus s’évacuer, engendrant une accumulation de charges positives dans les zones oĂč le processus de pulvĂ©risation est le plus faible. Ces charges s’éliminent par claquage du diĂ©lectrique provoquant l’éjection de microgouttelettes qui endommagent la qualitĂ© du revĂȘtement.

Instabilité de régime de pulvérisation

La prĂ©sence d’une instabilitĂ© du rĂ©gime de pulvĂ©risation est reprĂ©sentĂ©e par une hystĂ©rĂ©sis sur la courbe de suivi de la pression de gaz rĂ©actif en fonction de la quantitĂ© de gaz rĂ©actif introduit. Pour les faibles dĂ©bits de gaz rĂ©actif, l’évolution de la pression partielle d’oxygĂšne reste faible et la cible est essentiellement mĂ©tallique. Le systĂšme se trouve en rĂ©gime de pulvĂ©risation Ă©lĂ©mentaire (RPE). La vitesse de dĂ©pĂŽt est importante mais ne conduit pas Ă  la formation de composĂ©s stƓchiomĂ©triques. Le phĂ©nomĂšne d'instabilitĂ© correspond Ă  une transition entre le rĂ©gime RPE et le rĂ©gime pour lequel la cible est totalement recouverte d'un couche de composĂ© (RPC : RĂ©gime de PulvĂ©risation du ComposĂ©). Cette transition est provoquĂ©e par un emballement du systĂšme : la rĂ©duction de la quantitĂ© de vapeur mĂ©tallique pulvĂ©risĂ©e de la cible, rĂ©sultant de la formation du composĂ© Ă  sa surface, induit une diminution de la quantitĂ© de gaz rĂ©actif consommĂ© par la vapeur mĂ©tallique sur l'ensemble des parois de l'enceinte. Il en dĂ©coule une augmentation de la pression partielle de gaz rĂ©actif qui, en retour, conduit Ă  un accroissement du taux de recouvrement de la cible. On rappelle que la formation du composĂ© sur la cible s'accompagne d'une diminution du taux de pulvĂ©risation, on parle aussi d'empoissonnement ou de contamination de la cible.

La diffĂ©rence entre les courbes avec et sans dĂ©charge reprĂ©sente la quantitĂ© de gaz consommĂ©e par les parois. L’inverse de la pente de la droite sans dĂ©charge correspond Ă  la vitesse de pompage.

Comparaison avec d’autres mĂ©thodes de dĂ©pĂŽt

Une cible de pulvĂ©risation avec une gĂ©omĂ©trie typique en anneau, ici de l’or, montrant la cathode constituĂ©e du matĂ©riau Ă  dĂ©poser, l’anode contre-Ă©lectrode et un anneau extĂ©rieur pour Ă©viter la pulvĂ©risation du foyer qui maintient la cible.

Un important avantage de la pulvĂ©risation comme technique de dĂ©pĂŽt est que les films dĂ©posĂ©s ont la mĂȘme composition que le matĂ©riau source. L’identitĂ© stƓchiomĂ©trique entre le film et la cible pourrait surprendre du fait que le rendement de pulvĂ©risation dĂ©pend de la masse atomique des atomes dans la cible. On pourrait donc s'attendre Ă  ce qu'un composant d'un alliage ou d'un mĂ©lange pulvĂ©rise plus rapidement que les autres composants, menant Ă  un enrichissement de ce composant dans le dĂ©pĂŽt. Cependant, comme seuls les atomes Ă  la surface de la cible peuvent ĂȘtre pulvĂ©risĂ©s, l’éjection plus rapide d’un Ă©lĂ©ment laisse la surface enrichie avec les autres, ce qui compense efficacement la diffĂ©rence dans les vitesses de pulvĂ©risation. Ceci contraste avec les techniques thermiques d’évaporation, oĂč un composant de la source peut avoir une pression vapeur plus Ă©levĂ©e, il en rĂ©sulte un film dĂ©posĂ© avec une composition diffĂ©rente de la source.

Le dĂ©pĂŽt par pulvĂ©risation prĂ©sente aussi un avantage sur l’épitaxie par jet molĂ©culaire [molecular beam epitaxy (MBE)] Ă  cause de sa vitesse. La vitesse plus Ă©levĂ©e a pour consĂ©quence l'incorporation infĂ©rieure d'impuretĂ©s parce que moins d’impuretĂ©s peuvent atteindre la surface du substrat dans une mĂȘme quantitĂ© de temps. Les mĂ©thodes de pulvĂ©risation peuvent en consĂ©quence utiliser des gaz de processus avec des concentrations en d’impuretĂ©s bien plus Ă©levĂ©es que la pression de vide pouvant ĂȘtre tolĂ©rĂ©e par les mĂ©thodes de MBE. Durant le dĂ©pĂŽt par pulvĂ©risation le substrat peut ĂȘtre bombardĂ© par des ions Ă  grande Ă©nergie et des atomes neutres. Les ions peuvent ĂȘtre dĂ©viĂ©s avec une polarisation du substrat et le bombardement peut ĂȘtre minimisĂ© en pulvĂ©risant loin de l’axe mais aux dĂ©pens de la vitesse de dĂ©pĂŽt. Les substrats en plastique ne peuvent pas tolĂ©rer le bombardement et sont gĂ©nĂ©ralement traitĂ©s par Ă©vaporation.

Types de dépÎt par pulvérisation

La pulvérisation cathodique magnétron

Un canon magnĂ©tron Ă  pulvĂ©risation montrant le montage de la surface d’une cible, le passage de l’alimentation en vide, l’alimentation de puissance et le systĂšme de refroidissement Ă  eau. Ce systĂšme utilise une cible en forme de disque par opposition Ă  la gĂ©omĂ©trie en anneau illustrĂ©e ci-dessus.

Les sources de pulvĂ©risation sont habituellement des magnĂ©trons qui utilisent des champs forts Ă©lectriques et magnĂ©tiques pour emprisonner des Ă©lectrons prĂšs de la surface du magnĂ©tron, qui est connu comme la cible. Les Ă©lectrons suivent des trajectoires hĂ©licoĂŻdales autour des lignes de champ magnĂ©tique subissant plus de collisions ionisantes avec les Ă©lĂ©ments neutres gazeux prĂšs de la surface de cible, que cela ne se produirait autrement. Le gaz de pulvĂ©risation est inerte, typiquement l’argon. Le supplĂ©ment d’ions argon crĂ©Ă©s par suite de ces collisions conduit Ă  une vitesse de dĂ©pĂŽt plus Ă©levĂ©e. Il signifie aussi que le plasma peut ĂȘtre maintenu Ă  une plus basse pression. Les atomes pulvĂ©risĂ©s sont Ă©lectriquement neutres et donc insensibles au piĂšge magnĂ©tique. L’accumulation de charges sur des cibles isolantes peut ĂȘtre Ă©vitĂ©e par l’utilisation de la pulvĂ©risation RF (RF Sputtering) dans laquelle le signe de la polarisation anode-cathode est changĂ© Ă  haute vitesse. La pulvĂ©risation RF fonctionne bien pour produire des films d’un oxyde trĂšs isolant mais seulement avec la dĂ©pense supplĂ©mentaire des alimentations pour la pulvĂ©risation RF et des rĂ©seaux s’adaptant Ă  l’impĂ©dance.

Des champs magnĂ©tiques parasites fuyant des cibles ferromagnĂ©tiques perturbent aussi le processus de pulvĂ©risation. Des canons de pulvĂ©risation spĂ©cialement conçus avec de trĂšs puissants aimants permanents doivent souvent ĂȘtre utilisĂ©s en compensation.

Dans le monde industriel, les revĂȘtements par pulvĂ©risation cathodique peuvent ĂȘtre utilisĂ©s pour leur esthĂ©tique et leurs applications dĂ©coratives.

Les couleurs interfĂ©rentielles sont constituĂ©es par une sous-couche possĂ©dant une rĂ©flectivitĂ© importante sur laquelle une couche transparente diĂ©lectrique est dĂ©posĂ©e. D'une part, la lumiĂšre incidente est partiellement rĂ©flĂ©chie et, d'autre part, elle traverse partiellement la couche transparente. Cette derniĂšre a un indice de rĂ©fraction diffĂ©rent de celui de l'air. En interfĂ©rant les unes avec les autres, les ondes rĂ©flĂ©chies et rĂ©fractĂ©es provoquent une diminution ou une augmentation de la rĂ©flectivitĂ©. Par consĂ©quent, un dĂ©phasage des diffĂ©rentes longueurs d'onde se produit. Selon l'Ă©paisseur de la couche transparente diĂ©lectrique, le dĂ©phasage de longueurs d'onde peut ĂȘtre contrĂŽlĂ© et, de ce fait, la couleur du dĂ©pĂŽt[1].

Des couleurs indĂ©pendantes de l’épaisseur du dĂ©pĂŽt peuvent Ă©galement ĂȘtre obtenues en variant la composition chimique du dĂ©pĂŽt. On parle alors de revĂȘtement de couleurs intrinsĂšques. Ils peuvent ĂȘtre dĂ©posĂ©s Ă  partir d’une source composĂ©e d’un alliage ou alors Ă  partir d’une source d’un mĂ©tal simple en prĂ©sence d’un gaz rĂ©actif qui synthĂ©tise une cĂ©ramique. L’épaisseur des couches est d’environ un micromĂštre et la diffusion du plasma permet un recouvrement uniforme de la pĂ©riphĂ©rie des piĂšces de gĂ©omĂ©trie complexe. La croissance des revĂȘtements est rigoureusement conforme Ă  la topographie initiale de la surface de la piĂšce et reproduit ainsi les dĂ©cors mĂ©caniques. GrĂące Ă  une tempĂ©rature de procĂ©dĂ© basse (80 °C), il est possible de dĂ©poser sĂ©lectivement ces traitements[2].

Dans certains cas, les films PVD dĂ©coratifs sont soumis Ă  des contraintes d’usure, de friction ou de corrosion. Cette catĂ©gorie fait appel Ă  certaines caractĂ©ristiques fonctionnelles des matĂ©riaux telles que la duretĂ©, la densitĂ© et l’adhĂ©rence. Dans la majoritĂ© des cas, ces couches sont dĂ©posĂ©es Ă  des tempĂ©ratures supĂ©rieures Ă  200 °C. Afin de rĂ©sister aux tests d’usure accĂ©lĂ©rĂ©s, l’épaisseur des dĂ©pĂŽts est comprise entre 1,5 Ă  2,5 Â”m. Ils rĂ©sistent Ă©galement aux contraintes chimiques du portĂ©. Les domaines d’applications sont : Horlogerie, bijouterie-joaillerie, maroquinerie, instruments d’écriture, lunetterie. La variation de la composition chimique permet d’obtenir diffĂ©rentes couleurs (noire, jaune, grise, bleue, brune)[3].

Chaque mĂ©tal dĂ©posĂ© par pulvĂ©risation cathodique sous la forme d’une couche extrĂȘmement fine de quelques nanomĂštres reste semi-transparent. AppliquĂ©s sur un substrat transparent, ces dĂ©pĂŽts permettent de colorer la surface en conservant un degrĂ© d’opacitĂ© variable selon l’épaisseur du film semi-transparent. En combinant la pulvĂ©risation cathodique avec d’autres technologies telles que la photolithographie, l’ablation laser, lift off ou l’attaque chimique, il est possible de revĂȘtir sĂ©lectivement des surfaces[4].

Le domaine du luxe utilise parfois des piĂšces serties de pierres prĂ©cieuses. Des Ă©pargnes sĂ©lectives permettent de traiter ces piĂšces avec une excellente rĂ©solution entre les parties mĂ©talliques revĂȘtues et les pierres non-revĂȘtues[5].

La pulvérisation cathodique triode [(PCT)][6]

Pour faciliter l’alimentation du plasma en Ă©lectrons additionnels, on peut ajouter un filament chaud jouant le rĂŽle d’une cathode (3e Ă©lectrode pour le plasma). En appliquant une polarisation nĂ©gative au fil par rapport au plasma, on Ă©jecte les Ă©lectrons Ă©mis thermiquement par celui‐ci. Il faut maintenir cette tension aussi faible que possible pour limiter la pulvĂ©risation du filament (ce qui correspond environ Ă  10 Ă  50 V). Cette technique appelĂ©e pulvĂ©risation cathodique triode ou PCT permet d’obtenir des vitesses de dĂ©pĂŽt Ă©levĂ©es donc des revĂȘtements minces mais aussi avec des Ă©paisseurs relativement grandes. L’intĂ©rĂȘt de cette technique par rapport aux autres techniques PVD est que le potentiel de la cible, c'est-Ă -dire le matĂ©riau Ă  dĂ©poser n'ayant aucune influence sur le maintien de la dĂ©charge, de faibles tensions peuvent ĂȘtre utilisĂ©es. Ainsi, les risques de claquage sont rĂ©duits et le bombardement engendrĂ© Ă©tant Ă  des Ă©nergies plus faibles, le refroidissement nĂ©cessaire de la cible est moindre. Cette indĂ©pendance de la cible par rapport au plasma fait que la cible peut avoir n'importe quelle forme (ce qui n'est pas le cas avec des procĂ©dĂ©s diodes). Le substrat lui aussi peut ĂȘtre sous n'importe quelle forme, l’homogĂ©nĂ©itĂ© du dĂ©pĂŽt dĂ©pend ensuite de son mouvement et le procĂ©dĂ© Ă©tant directif, de ses ombrages Ă©ventuels. Enfin, dans le systĂšme triode, la dĂ©charge peut ĂȘtre entretenue Ă  une pression plus faible que dans le montage DC diode : de l'ordre de 10−3 Ă  10−4 Torr, ce qui est un avantage du point de vue de la contamination des couches par le gaz utilisĂ© pour former le plasma.

La pulvérisation cathodique magnétron pulsé à haute puissance [High Power Impulse Magnetron Sputtering (HIPIMS)][7]

Une limitation de la pulvĂ©risation cathodique conventionnelle est liĂ©e au refroidissement de la cible puisque la plupart de la puissance Ă©lectrique apportĂ©e se transforme en Ă©nergie thermique. Par HIPIMS, des courants instantanĂ©s trĂšs Ă©levĂ©s peuvent ĂȘtre rĂ©alisĂ©s tout en maintenant un Ă©chauffement rĂ©duit de la cible du fait de l’utilisation d’impulsions de courtes durĂ©es, de quelques dizaines de microsecondes selon une frĂ©quence infĂ©rieure au kHz. La densitĂ© de puissance peut atteindre des niveaux de 2 800 W/cm2 comparĂ©s Ă  W/cm2 pour des systĂšmes magnĂ©trons conventionnels. Ainsi, la technique HIPIMS prĂ©sente un certain nombre d'avantages. Par exemple, l’utilisation d’une haute puissance produit des ions avec des Ă©nergies dans la gamme de 50 eV Ă  100 eV. Cela engendre souvent des dĂ©pĂŽts plus denses que ceux rĂ©alisĂ©s par les techniques conventionnelles, oĂč l'Ă©nergie des ions se situe entre 2 eV et 10 eV. Ces ions hautement Ă©nergĂ©tiques permettent de compacter la couche au fur et Ă  mesure de sa croissance. De plus, les couches obtenues ont de meilleures propriĂ©tĂ©s d'adhĂ©rence du fait que les ions crĂ©Ă©s ont une Ă©nergie suffisante pour s’implanter lĂ©gĂšrement dans la surface du substrat, produisant un lien tenace. Cependant, ce type de technique systĂšme peut engendrer des contraintes compressives au sein du revĂȘtement. Leur niveau est toutefois contrĂŽlable en adaptant la densitĂ© de puissance. L’HIPIMS permet aussi d’obtenir des vitesses de dĂ©pĂŽt plus Ă©levĂ©es que celles obtenues conventionnellement puisque la puissance peut ĂȘtre augmentĂ©e sans que la tempĂ©rature de fusion de la cible soit atteinte.

La pulvérisation par cathode creuse [Glow Flow Sputtering (GFS)]

La pulvĂ©risation par cathode creuse, publiĂ©e la premiĂšre fois par Ishii et co[8], est une technique basĂ©e sur l’utilisation d’une cathode creuse et le transport des espĂšces ainsi pulvĂ©risĂ©es par un flux gazeux. Par rapport Ă  la pulvĂ©risation magnĂ©tron, la cible est creuse et placĂ©e perpendiculairement au substrat. Sa forme peut ĂȘtre soit un tube, soit deux plaques parallĂšles rectangulaires placĂ©es en vis-Ă -vis. Dans une gamme de pression appropriĂ©e qui dĂ©pend de la largeur de la cavitĂ© de la cathode creuse, le courant de dĂ©charge peut atteindre des valeurs trois fois plus Ă©levĂ©es, liĂ©es principalement au confinement du plasma gĂ©nĂ©rĂ©. La largeur de la cavitĂ© et la pression habituellement utilisĂ©es sont respectivement quelques centimĂštres et de 0,1 Ă  1,0 mbar. Du fait de l’effet cathode creuse et du niveau de la pression de travail, une forte densitĂ© de puissance peut ĂȘtre obtenue, engendrant un plasma dense, donc une importante Ă©rosion de la cible et une vitesse de dĂ©pĂŽt Ă©levĂ©e. Le transport des espĂšces pulvĂ©risĂ©es est rĂ©alisĂ© par la convection du gaz de travail, l'argon habituellement, qui est injectĂ© au niveau de la cathode creuse Ă  l’opposĂ© du substrat. Leur Ă©nergie cinĂ©tique Ă©tant faible, les dĂ©fauts des revĂȘtements obtenus par ce procĂ©dĂ© sont moindres. Dans le cas de dĂ©pĂŽt en atmosphĂšre rĂ©active, de revĂȘtements d'oxydes par exemple, le gaz rĂ©actif est introduit Ă  la sortie de la cathode creuse, ce qui permet de limiter les rĂ©actions au niveau de la cible, et donc la formation d’une couche isolante, par exemple.

La pulvĂ©risation par faisceau d’ions [Ion-beam Sputtering (IBS)]

Une mĂ©thode dans laquelle la cible est extĂ©rieure Ă  la source ionique. Une source peut fonctionner sans aucun champ magnĂ©tique comme dans le cas d’une mesure chaude d’ionisation de filament (cathode chaude). Dans une source Kaufman des ions sont gĂ©nĂ©rĂ©s par la collision avec des Ă©lectrons qui sont confinĂ©s dans un champ magnĂ©tique comme dans un magnĂ©tron. Ils sont alors accĂ©lĂ©rĂ©s par le champ Ă©lectrique Ă©manant d’une grille, vers une cible. Lorsque les ions quittent la source ils sont neutralisĂ©s par les Ă©lectrons provenant d’un second filament. IBS prĂ©sente un avantage car l’énergie et le flux d’ions peuvent ĂȘtre contrĂŽlĂ©s indĂ©pendamment. Comme le flux qui frappe la cible se compose d’atomes neutres, des cibles conductrices ou isolantes peuvent ĂȘtre pulvĂ©risĂ©es. IBS a trouvĂ© une application dans la fabrication des tĂȘtes en couche mince pour des unitĂ©s de disques. Le principal inconvĂ©nient de IBS est l’importance de la maintenance nĂ©cessaire pour garder la source d’ions en Ă©tat de fonctionnement.

Le dépÎt assisté par canon à ion [ion beam assisted deposition (IBAD)]

Dans cette technique le substrat est exposĂ© Ă  un faisceau d’ions secondaires opĂ©rant Ă  une pression infĂ©rieure Ă  celle du canon Ă  pulvĂ©risation. Habituellement une source de Kaufman comme celle utilisĂ©e en IBS fournit le faisceau secondaire. La technique IBAD peut ĂȘtre utilisĂ©e pour dĂ©poser du carbone sous sa forme diamant sur un substrat. Tous les atomes de carbone qui atterrissent sur le substrat sans se lier correctement Ă  la structure cristalline du diamant seront chassĂ©s par le faisceau secondaire. La NASA l'a utilisĂ©e pour faire une expĂ©rience en dĂ©posant des films de diamant sur des pales de turbines dans les annĂ©es 1980. L’IBAD est utilisĂ©e dans d’autres importantes applications industrielles telles que le traitement de surface avec du carbone amorphe tĂ©traĂ©drique sur les plateaux des disques durs et les transitions dures de revĂȘtement nitrure mĂ©tal sur les implants mĂ©dicaux.

HiTUS (High Target Utilisation Sputtering Haute utilisation des cibles de pulvérisation)

Cette technologie est une Ă©volution majeure de la traditionnelle technologie magnĂ©tron de dĂ©position de couches minces largement utilisĂ©e dans les domaines de l’industrie et de la recherche. Un processus fondĂ© sur la gĂ©nĂ©ration Ă  distance d’un plasma Ă  haute densitĂ©. Le plasma est gĂ©nĂ©rĂ© dans une chambre latĂ©rale ouvrant sur la chambre principale contenant la cible et le substrat Ă  revĂȘtir. Pour augmenter l’adhĂ©rence et prĂ©parer le substrat, des contaminants volatils sur la surface du substrat sont enlevĂ©s, en dirigeant le jet faisceau de plasma sur le substrat. Avant le dĂ©pĂŽt, la cible est nettoyĂ©e par pulvĂ©risation dans un plasma pur d'argon pour Ă©liminer des oxydes/contamination. Comme le plasma est gĂ©nĂ©rĂ© Ă  distance, et non Ă  partir de la cible elle-mĂȘme (comme dans la pulvĂ©risation conventionnelle utilisant le magnĂ©tron), le courant d’ions Ă  la cible est indĂ©pendant de la tension appliquĂ©e Ă  la cible.

Le processus offre une multitude d’avantages, comparĂ© aux techniques traditionnelles de pulvĂ©risation, tels que :

  • utilisation de la cible Ă  95 %, de façon homogĂšne sur toute sa surface (pas de sillon creusĂ© dans la cible (racetrack)) ;
  • augmentation de la vitesse de dĂ©pĂŽt, en particulier pour des diĂ©lectriques dĂ©posĂ©s par pulvĂ©risation rĂ©active ;
  • processus de pulvĂ©risation rĂ©active contrĂŽlĂ© trĂšs simplement - absence de systĂšme de rĂ©gĂ©nĂ©ration (le courant ionique de la cible est indĂ©pendant de la tension appliquĂ©e sur le cible) ;
  • meilleure prĂ©cision des dĂ©pĂŽts ;
  • meilleur contrĂŽle des caractĂ©ristiques du film, avec des propriĂ©tĂ©s proches de celles du matĂ©riau dĂ©posĂ© dans la masse ;
  • meilleur contrĂŽle de l’état de surface : lissage ;
  • niveaux Ă©levĂ©s de reproductibilitĂ© et de rĂ©pĂ©tabilitĂ© ;
  • plus haute vitesse de production ;
  • possibilitĂ© de production en ligne ou roll-to-roll, avec la possibilitĂ© de multicouches ;
  • contrainte dans le dĂ©pĂŽt aisĂ©ment contrĂŽlable, de la compression Ă  la tension, ou nulle entre ces deux possibilitĂ©s ;
  • processus Ă  basse tempĂ©rature, autorisant un dĂ©pĂŽt sur des substrats organiques ;
  • le processus peut aisĂ©ment ĂȘtre intĂ©grĂ© dans beaucoup d’installations existantes de pulvĂ©risation.

DépÎt trÚs précis de la couche mince sur des substrats de grande dimension

Un des problĂšmes majeurs rencontrĂ© lors du dĂ©pĂŽt de la couche mince est son aptitude Ă  recouvrir des substrats de grande dimension tout en obtenant les rĂ©sultats trĂšs prĂ©cis des dĂ©pĂŽts mono- ou multicouches. La technologie plasma pulvĂ©risation cathodique/(sputtering) HiTUS (High Target Utilisation Sputtering/Haute utilisation des cibles de Sputtering) associĂ©e Ă  celle de la cible linĂ©aire a dĂ©montrĂ© une amĂ©lioration majeure dans les rĂ©sultats escomptĂ©s tels que la prĂ©cision, l’uniformitĂ©, le contrĂŽle de la contrainte tant en compression qu’en tension en passant par la contrainte nulle, et la rugositĂ© sur des substrats mesurant jusqu’à et mĂȘme au-delĂ  de 50 Ă  60 cm. La cible linĂ©aire permet le dĂ©veloppement d’un processus linĂ©aire sur une large surface avec les mĂȘmes avantages que la technologie HiTUS pour les processus roll-to-roll ou en ligne.

Autres utilisations

Dans la nature, on retrouve un processus analogue: le vent solaire projette, sur des surfaces telles que celles de Mercure ou de la Lune, un plasma capable de former une atmosphÚre ténue.

Si la technique de pulvĂ©risation cathodique est utilisĂ©e pour dĂ©poser des matĂ©riaux sur un substrat, elle peut aussi ĂȘtre utilisĂ©e pour d'autres motifs.

Gravure

Le plasma généré peut servir à graver un substrat. Il s'agit d'une technique de gravure dite « sÚche » ou « physique », qui présente l'avantage d'une forte anisotropie, contrairement aux gravures humides.

Analyse

La spectromĂ©trie de masse Ă  ionisation secondaire (SIMS) fonctionne sur le mĂȘme principe que la pulvĂ©risation cathodique.

Notes et références

  1. Traitement PVD sur des surfaces métalliques et céramiques planes.
  2. Traitement PVD sur des surfaces métalliques et céramiques de géométries complexes.
  3. Traitement PVD avec une propriété de dureté et ténacité élevées.
  4. Traitement PVD allié à d'autres techniques.
  5. Traitement PVD bicolores.
  6. G.Golan, A. Axelevitch Novel method of low vacuum plasma triode sputtering, Microelectronics Journal 33 (2002) 651-657.
  7. Ulf Helmersson, Martina Lattemann, Johan Bohlmark, Arutiun P. Ehiasarian, et Jon Tomas Gudmundsson, Ionized physical vapor deposition (IPVD): A review of technology and applications, Thin Solid Films 513 (2006), 1-24.
  8. K. Ishii, S. Handa, H. Terauchi, Sputtering of Cu in a high pressure atmosphere,Appl. Surf. Sci. 33–34 (1988) 1107–1113.

Aucune référence, ni comparaison avec le traitement DLC (Diamond Like Coating, ou Diamond Like Carbon), qui par ailleurs, avec le traitement PVD sont trÚs développés depuis une dizaine d'années dans l'industrie horlogÚre de luxe (notamment sur les boites de montres), dans un premier temps pour l'aspect esthétique que l'on en retire, puis la résistance du boitier à la corrosion, et au vieillissement.

Voir aussi

Articles connexes

AtmosphĂšre de la Lune

AtmosphĂšre de Mercure

Liens externes

Cet article est issu de wikipedia. Text licence: CC BY-SA 4.0, Des conditions supplĂ©mentaires peuvent s’appliquer aux fichiers multimĂ©dias.