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Analyse thermodifférentielle

L'analyse thermique diffĂ©rentielle (ATD), en anglais Differential Thermal Analysis (DTA), est une technique d'analyse thermique qui consiste Ă  suivre l’évolution de la diffĂ©rence de tempĂ©rature entre l’échantillon Ă©tudiĂ© et un corps tĂ©moin inerte, c’est-Ă -dire dĂ©pourvu d’effets thermiques dans le domaine de tempĂ©rature Ă©tudiĂ©.

Histoire

En 1887, Henry Le Chatelier dĂ©couvre la technique d’analyse thermique diffĂ©rentielle. Douze ans plus tard, Roberts Austen dĂ©crit la mĂ©thode et les composantes de tous les appareils que l’on utilise de nos jours[1]. Depuis, de nombreux chercheurs ont fait des avancĂ©es dans ce domaine, comme Carpenter et Keeling, Burgess, Fenner, Saladin[2].

Principe de base

Schéma d'une réaction exothermique.

L'ATD est une technique qui utilise le chauffage (ou le refroidissement) d’une substance Ă  analyser et d’une substance inerte (rĂ©fĂ©rence) afin d’enregistrer la diffĂ©rence de tempĂ©rature (∆T) entre les deux. Le graphique obtenu est la « courbe thermique diffĂ©rentielle Â», qui provient du changement de composition chimique et de la structure cristalline de l’échantillon[3]. Quand la tempĂ©rature de l'Ă©chantillon augmente plus vite que celle de la rĂ©fĂ©rence, une rĂ©action exothermique a lieu. Au contraire, si la tempĂ©rature de l'Ă©chantillon prend plus de temps Ă  augmenter en comparaison avec la rĂ©fĂ©rence, il y a absorption de tempĂ©rature et le pic est endothermique[1].

Schéma d'une réaction endothermique.

Quatre composantes importantes de l'appareil

Porte-Ă©chantillon

Le matĂ©riau de construction du porte-Ă©chantillon est choisi en fonction de l’intervalle de tempĂ©rature dĂ©sirĂ©. On utilise habituellement le nickel, l'inconel (mĂ©lange de plusieurs mĂ©taux) et l’acier inoxydable pour des tempĂ©ratures infĂ©rieures Ă  1 000 °C. Pour une tempĂ©rature maximum de 1 750 °C, on utilise le platine. Vers 2 800 °C, il faut utiliser des matĂ©riaux rĂ©fractaires[3].

Les portes-Ă©chantillons ont deux Ă  trois cavitĂ©s pour dĂ©poser les Ă©chantillons et la rĂ©fĂ©rence. Ces compartiments ont une profondeur d’environ 12 mm. Ils sont divisĂ©s dans l’espace de façon stratĂ©gique et calculĂ©s pour que la tempĂ©rature soit uniforme dans tout le compartiment[3]. Sous chacune des cavitĂ©s se trouve un thermocouple qui sert Ă  analyser les variations de tempĂ©rature. La tempĂ©rature de la rĂ©fĂ©rence permet de calculer les variations de tempĂ©rature des Ă©chantillons. Les thermocouples sont gĂ©nĂ©ralement de type K, dont les fils faits en Chromel (alliage de 90 % de nickel et 10 % de chrome) et d'Alumel (alliage de 95 % de nickel, 2 % manganĂšse, 2 % aluminium et 1 % silicium) et sont utilisĂ©s pour dĂ©terminer des tempĂ©ratures infĂ©rieures Ă  1 000 °C. Pour des tempĂ©ratures supĂ©rieures, on utilise un fils composĂ© d’autres mĂ©taux plus rĂ©sistants comme le platine[4].

Enfin, les contenants Ă  Ă©chantillon, aussi appelĂ©s lids, assurent l’uniformitĂ© de la tempĂ©rature. Les matĂ©riaux de construction de ces contenants sont inertes[3].

Source de chaleur

Deux mĂ©thodes sont considĂ©rĂ©es pour la source, la tempĂ©rature au-dessus et en dessous de la tempĂ©rature ambiante :

  • pour la section au-dessus de la tempĂ©rature ambiante, on utilise un four Ă©lectronique de puissance satisfaisante ; premiĂšrement, pour augmenter la tempĂ©rature assez rapidement dans le porte-Ă©chantillon et ainsi atteindre la tempĂ©rature voulue, deuxiĂšmement, pour que dans le four la tempĂ©rature soit uniforme, afin que l’échantillon et la rĂ©fĂ©rence soient chauffĂ©s de la mĂȘme façon[3] ;
  • pour atteindre la section en dessous de la tempĂ©rature ambiante, on utilise de l’azote liquide Ă  −195 °C. Il se situe dans un rĂ©cipient proche et, quand on en a besoin, on rend le fluide gazeux pour refroidir le four. Le gaz se trouve dans un compartiment autour du porte-Ă©chantillon et est toujours en mouvement[3].

SystÚme de régularisation de la température

Le systÚme de régularisation de la température sert à ajuster la température désirée et à assurer une transmission convenable de la température dans le porte-échantillon. Pour cela, cinq parties sont nécessaires[1] :

  1. il doit possĂ©der un programme qui ajuste la vitesse de chauffage ou de refroidissement. Il doit ĂȘtre capable de diminuer ou d’augmenter la tempĂ©rature de 1 Ă  20 Â°C/min. On utilise gĂ©nĂ©ralement 10 Â°C/min comme vitesse de chauffage ou refroidissement ;
  2. il doit pouvoir refroidir rapidement. Toutefois, dans le cas de four trĂšs grand, il peut ĂȘtre difficile de descendre rapidement la tempĂ©rature en dessous de 500 °C, car retourner Ă  la tempĂ©rature ambiante prend beaucoup de temps ;
  3. il doit avoir un contrÎle isothermique pour avoir une température uniforme dans le porte-échantillon ;
  4. il est prĂ©fĂ©rable qu’il y ait un systĂšme de contrĂŽle de la tempĂ©rature pour empĂȘcher de dĂ©passer la tempĂ©rature dĂ©sirĂ©e, ce qui est plus problĂ©matique dans les grands fours ;
  5. le four ne doit pas gĂ©nĂ©rer des interfĂ©rences Ă©lectriques pour ne pas fausser les rĂ©sultats de ΔT.

SystÚme de traitement de données

Le systĂšme de traitement de donnĂ©es comprend quatre parties : l’amplificateur, l’enregistreur potentiomĂ©trique, l’indicateur galvanomĂ©trique et le logiciel de traitement de donnĂ©es[1].

GĂ©nĂ©ralement, les forces Ă©lectromotrices (f.Ă©.m.) ne sont pas assez Ă©levĂ©es pour ĂȘtre dĂ©tectĂ©es ; il faut donc un amplificateur. Dans les Ă©quipements qui peuvent utiliser de grandes masses d’échantillon (environ g) et munis de thermocouples en chromel-alumel, l’amplificateur n’est pas nĂ©cessaire. La diffĂ©rence de voltage qui est dĂ©tectable varie entre 25 et 500 Â”V[1].

Les caractĂ©ristiques de l'enregistreur potentiomĂ©trique peuvent varier selon les modĂšles, mais les quatre caractĂ©ristiques suivantes sont importantes[1] :

  1. double canal d’enregistrement (plume) : plutĂŽt qu'un relevĂ© sur un unique canal d’enregistrement (une plume), qui requiert de relever alternativement la tempĂ©rature et la diffĂ©rence de tempĂ©rature Ă  des temps prĂ©dĂ©terminĂ©s, le double canal (deux plumes) permet d'Ă©valuer la diffĂ©rence de tempĂ©rature en mĂȘme temps que la tempĂ©rature dans le temps ;
  2. sensibilitĂ© adĂ©quate : la plupart des appareils qui enregistrent le courant le font Ă  1 ou 10 mV. Dans certains cas, il est avantageux d’avoir la possibilitĂ© d’étendre l’écart de sensibilitĂ© sans ajuster l’amplificateur ;
  3. vitesse multiple : pour un taux de chauffage de 10 Â°C/min, une vitesse d’enregistrement de donnĂ©es (Ă©criture du graphique) de 30 cm de graphe par heure est satisfaisante. Aussi, une variation dans le taux de chauffage peut apporter certaines informations complĂ©mentaires ;
  4. une rĂ©ponse rapide de la plume : la vitesse de rĂ©ponse de la plume doit ĂȘtre au moins une seconde pour une charte de 10 cm de large.

Utiliser l’indicateur galvanomĂ©trique est une mĂ©thode trĂšs facile pour trouver le signal de ΔT. Il faut un centre galvanomĂ©trique de zĂ©ro connectĂ© aux bornes des jonctions de ΔT et un opĂ©rateur enregistre la dĂ©viation galvanomĂ©trique en fonction de la tempĂ©rature. Le coĂ»t de l’équipement est faible mais le travail est long, donc cette mĂ©thode est rarement utilisĂ©e en industrie.

Un logiciel de traitement de donnĂ©es permet ensuite de calculer l’aire sous les pics, la puretĂ© de l’échantillon, etc.[1]

Application

L'ATD permet l’analyse de produits organiques, inorganiques, etc. Pour chaque catĂ©gorie de composĂ©s, certaines parties de l’appareillage sont spĂ©cifiques. Par exemple, pour les mĂ©taux et les alliages, l’appareil doit possĂ©der des thermocouples en cĂ©ramique spĂ©ciale chimiquement inactive pour ne pas interfĂ©rer avec l’analyse si les tempĂ©ratures sont trĂšs Ă©levĂ©es. Il faut aussi que le porte-Ă©chantillon soit fait d’un matĂ©riau spĂ©cial pour empĂȘcher que la tempĂ©rature et la pression Ă©levĂ©es faussent les rĂ©sultats[3].

Notes et références

  1. M. I. Pope et M. D. Judd, Differential Thermal Analysis: A guide to the technique and its applications, Heyden & Son, Spectrum House, Hillview Gardens, Londres, 1977.
  2. H. Laamari, Étude thermodynamique des matĂ©riaux de rĂ©fĂ©rence et leurs applications dans les techniques d'analyse thermique et de calorimĂ©trie, UniversitĂ© de Batna, Batna, AlgĂ©rie, 2007.
  3. R.C. Mackenzie, Differential Thermal Analysis, Academic Press, New York, États-Unis, 1970.
  4. W. J. Smothers, Y. Chiang, Handbook of Differential Thermal Analysis, New York, États-Unis, Chemical publishing company, 1966.
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