Exposition en cas de défaut
L’exposition en cas de défaut - en anglais, Exposure At Default (EAD) - est un paramètre utilisé dans la détermination du capital économique, ECap et du capital réglementaire, RegCap sous Bâle II pour les institutions bancaires.
DĂ©finition
L'« exposition en cas de défaut » est l'exposition encourue par un créancier en cas de défaut de son débiteur. En d'autres termes, c'est le montant du prêteur exposé au risque de défaut de l'emprunteur. qui est le risque que le débiteur ne remplisse pas son obligation de remboursement au créancier.
L'exposition en cas de défaut comprend d'une part l'exposition au bilan qui correspond aux sommes effectivement avancées par l'établissement financier (le prêteur) au client et d'autre part l'exposition au hors bilan qui correspond à un engagement de l'établissement financier auprès de celui-ci pouvant donnant lieu dans le futur à un versement de fond : crédit non décaissé ou décaissé partiellement, autorisation de découvert non utilisée, engagement par signature, ... (exposition au hors bilan). Pour calculer l'EAD, l'exposition au hors bilan est pondérée par un taux, le Facteur de conversion en équivalent crédit ou FCEC (CCF en anglais), qui reflète la probabilité d'utilisation de cet engagement par le client.
Bibliographie
- Bluhm, Christian, Ludger Overbeck et Christoph Wagner, An Introduction to Credit Risk Modeling, Chapman & Hall/CRC, (ISBN 978-1-58488-326-5)
- Damiano Brigo and Massimo Masetti, Risk Neutral Pricing of Counterparty Risk, in: Pykhtin, M. (Editor), Counterparty Credit Risk Modeling: Risk Management, Pricing and Regulation, Risk Books, (ISBN 978-1-904339-76-2)
- Orlando, Giuseppe, Bufalo Michele, Penikas Henry et Zurlo Concetta, Modern Financial Engineering: Counterparty, Credit, Portfolio and Systemic Risks, World Scientific, (ISBN 978-981-125-235-8)
- de Servigny, Arnaud et Olivier Renault, The Standard & Poor's Guide to Measuring and Managing Credit Risk, McGraw-Hill, (ISBN 978-0-07-141755-6)
- Darrell Duffie and Kenneth J. Singleton, Credit Risk: Pricing, Measurement, and Management, Princeton University Press, (ISBN 978-0-691-09046-7)
Voir aussi
- Probabilité de défaut (Probability of default)
- RWA (Risk-Weighted Assets)
- LGD (Loss Given Default)
- EL (Expected Loss)